關於LANGER的產品介紹

1、LANGER掃描儀(yi) 探頭100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H場探頭的測量線圈與(yu) 探頭軸正交布置。當探頭垂直放置時，測量線圈直接位於(yu) 印刷電路板的表麵上。這樣就可以在電路板表麵上難以觸及的位置進行測量，例如在開關(guan) 調節器的大型組件之間進行測量。

②LFS-B 3是無源近場探頭。與(yu) 磁場探頭LFS-R 3的區別在於(yu) 線圈旋轉了90°。LFS-B 3檢測從(cong) 測量對象正交出現的磁場線。未檢測到從(cong) 側(ce) 麵進入探頭的磁場線。近場探頭小巧方便。它具有護套電流阻尼並且具有電屏蔽功能。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀(yi) 或示波器。H場探頭內(nei) 部沒有50端接電阻。

2、LANGER近場探頭

①單個(ge) 近場探頭不足以搜索發射。而是，硬件開發人員的任務是選擇和使用相關(guan) 的探針。

②對於(yu) 模塊的EMC優(you) 化，重要的是開發一種用於(yu) 近場測量的測量策略，以便使用所選的近場探頭在板上找到發射源。

③Langer EMV-Technik GmbH為(wei) 模塊上的近場偵(zhen) 察提供各種H/B近場探頭和E/D近場探頭。每個(ge) 探針家族都是根據特定任務開發的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭特別具有實用的引腳形狀。它們(men) 很小且方便。這使開發人員可以在其電子產(chan) 品上進行靈活而有針對性的測量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近場探頭通常適用於(yu) 在100 kHz至20 GHz頻率範圍內(nei) 測量RF幹擾所需的所有預一致性測量。

⑥所有近場探頭均由德國的Langer EMV-Technik GmbH開發，製造和校準。具有校正特性，可以將輸出端的探針電壓轉換為(wei) 探針頭位置處的磁場。校正特性可作為(wei) EXCEL作為(wei) xlsx文件下載準備在他們(men) 的網站上。您會(hui) 從(cong) Langer EMV-Technik GmbH獲得特別設計的成套或單獨的近場探頭。

3、LANGER近場探頭100 kHz至50 MHz LF1套裝

①近場探頭套件LF1包含四個(ge) 屏蔽無源近場探頭，用於(yu) 電子組件上LW，MW和KW範圍內(nei) HF磁場的發展伴隨測量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的幹擾發射源。

②首先，使用LF-R 400探頭從(cong) 更遠的距離確定模塊的幹擾發射。此外，使用更高分辨率的探頭LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精確地定位幹擾源。

③這些探頭可以對單個(ge) 引腳，較大的組件和結構部件進行測量。近場探頭小巧方便。它們(men) 具有護套電流阻尼並且被電屏蔽。近場探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀(yi) 或示波器。

④磁場探頭LF-B 3的測量線圈與(yu) 探頭軸正交。當探頭垂直放置時，測量線圈直接位於(yu) 印刷電路板的表麵上。結果，在電路板表麵難以到達的位置進行了測量，例如在大型建築物之間。